Using Dynamic Tracing Sampling to Measure Long Running Programs

Ø Ð × ÑÙÐ Ø ÓÒ Ò Ù× ÙÐ ØÓ ÓØ ×Ý×Ø Ñ ¹ Ú ÐÓÔ Ö× Ò ÔÔÐ Ø ÓÒ ÛÖ Ø Ö× ØÓ ÙÒ Ö×Ø Ò Ò ÔÔÐ ¹ Ø ÓÒ³× Ô Ö ÓÖÑ Ò º ÀÓÛ Ú Ö¸ Ñ ×ÙÖ Ò ÐÓÒ ÖÙÒÒ Ò ÔÖÓ¹ Ö Ñ× Ò ÜØÖ Ñ ÐÝ ×ÐÓÛº ÁÒ Ø × Ô Ô Ö Û ÔÖ × ÒØ Ø Ò ÕÙ ØÓ Ù× ÝÒ Ñ × ÑÔÐ Ò Ó ØÖ ×Ò ÔÔ Ø× Ø ÖÓÙ ¹ ÓÙØ Ò ÔÔÐ Ø ÓÒ³× Ü ÙØ ÓÒº Ï ÑÓÒ×ØÖ Ø Ø Ø ÓÙÖ ÔÔÖÓ ÑÔÖÓÚ × ÙÖ Ý ÓÑÔ Ö ØÓ × ÑÔÐ Ò Û Ø Ñ ×Ø Ô× Ø Ø ÒÒ Ò Ó Ü ÙØ ÓÒ Ý Ù ÓÙ×ÐÝ ÓÓ×¹ Ò Ø Ö ÕÙ Ò Ý¸ × Û ÐÐ × Ø ÔÓ ÒØ× Ò Ø ÓÒØÖÓÐ ­ÓÛ¸ Ø Û × ÑÔÐ × Ö ÓÐÐ Ø º ÇÙÖ ÔÔÖÓ × Ú Ð Ø Ù× Ò Ø ËÁ Å ØÖ Ò Ò × ÑÙÐ Ø ÓÒ Ö Ñ ÛÓÖ ÓÖ Ø Á Å ÈÓÛ Ö Ñ ÐÝ Ó ÔÖÓ ××ÓÖ׺ Categories and Subject Descriptors º È Ö ÓÖÑ Ò Ó ËÝ×Ø Ñ× Å ×ÙÖ Ñ ÒØÌ Ò ÕÙ × Áº º¿ Ë ÑÙÐ Ø ÓÒ Ò ÅÓ Ð Ò ÔÔÐ �...

• Type: Conference
• Year: 2005
• Where: SC
• Authors: Jeffrey Odom, Jeffrey K. Hollingsworth, Luiz De Rose, Kattamuri Ekanadham, Simone Sbaraglia
• Keywords: Applied Computing, SC 2005